分析装置

銅膜厚測定器(UPA Technology社製)

4点式微小抵抗法により、内層銅の影響を受けずに多層基板の表面、スルーホール、銅膜厚測定が可能。

キャビダームCD-8 

キャビダームCD-8

カッパーダーム mm615

カッパーダーム mm615

 

特徴

膜厚を直読可能(インチ表示又はメートル表示)
10通りのアプリケーションメモリーがセットアップデータを記憶)
半田めっき、金メッキの下の無電解銅メッキ、電解銅めっきの膜厚測定が可能
測定された目標値に対する良否結果を判断し、ブザー又はディスプレイによる警告が可能