実験・評価用装置

酸化膜・金属膜厚測定装置(ECI Technology社製)デモ可能です

Surface Scan SERA QC-100 

Surface Scan SERA QC-100

 

 

特徴

酸化膜の測定が可能(Cu Sn Ag等)
酸化膜の同定が可能(例: Cuの場合 Cu2O CuO Cu2S)
金属の膜厚測定が可能(Cu Sn Ag Au Ni Cu6Sn5 Cu3Sn)
金属表面の管理や不良解析に役立つ
Ag表面解析 Ag2Sの検出が可能

 

 

Surface Scan SERA QC-200 

Surface Scan SERA QC-200

 

 

特徴

Cuワイヤの表面酸化膜が測定可能(CuO,Cu2O,Cu2S)
測定ワイヤ径は15~200μm
Agワイヤの評価も可能